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减压氮保护直拉硅单晶生长
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摘要
本文报道了在氮气中生长直拉硅单晶的实验结果。探讨了在减压下氮与硅的化学反应。结果表明减压氮气流能消除氧化硅烟尘,并取得无位错单晶的高产率。用本方法生长的低碳硅单晶具有良好电学性能。对单晶的热处理性能进行了研究。晶片经过三步内吸除热处理后可得理想的洁净区。
作者
阙端麟
李立本
陈修治
林玉瓶
张锦心
周晓
杨建松
机构地区
浙江大学材料系
出处
《中国科学(A辑)》
CSCD
1991年第2期215-219,共5页
Science in China(Series A)
基金
国家自然科学基金
关键词
硅单晶
直拉硅单晶
减压氮保护
分类号
TN304.120 [电子电信—物理电子学]
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中国科学(A辑)
1991年 第2期
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