摘要
本文提出了一种利用扫描隧道显微镜ＳＴＭ的图像数据，计算材料微观表面线维数和面维数的计算方法，并用该方法对不同分辨率的两种不同材料进行了处理、分析，发现材料表面分形维数可能与其晶体结构有关。
A new method was proposed to calculate both linear and
surface fractal dimensions of the material microsurfaces from the STM photograph data.Fractal
dimensions of two different materials (MINi5 alloy and graphite) wene measured,calculated and
analyzed.It was found that the fractal dimensions of the microsurface are related to the
mictostructures of the materials.
出处
《中国体视学与图像分析》
1999年第2期92-96,I001,共6页
Chinese Journal of Stereology and Image Analysis
基金
国家自然科学基金
浙江大学曹光彪高科技发展基金
