摘要
在分光计上可观察到等倾干涉图样随入射角不同而变化的现象 ,本文介绍观察这一现象的方法 ,并对此现象的成因作简要分析。
In this paper,a spectrometer method for observing the phenomenon that involves the change of interference pattern of equal inclination with different incident angle is introduced,and a concise analysis of the formation cause of the phenomenon is given
出处
《楚雄师范学院学报》
2002年第3期38-39,共2页
Journal of Chuxiong Normal University
关键词
分光计
入射角
等倾干涉图样
光学平行平板
spectrometer,incident angle,interference pattern of equal inclination
