期刊文献+

一种用于高速ADC INL/DNL测试的新方法 被引量:9

Research on Testing Technology of High Speed ADC
在线阅读 下载PDF
导出
摘要 随着高速ADC器件的不断出现,传统的低速ADC器件测试评价方法已经越来越不适用。为从工程上实现高速ADC器件的测试评价,提供了一种高速ADC器件关键参数评价INL、DNL的新方法,详细分析了新算法的原理和正确性。目前这些算法已经大量应用到实际高速ADC器件的测试评价中去,解决了高速ADC器件难以评价的问题。 With the emergence of high speed ADC, the traditional technology of low speed ADC testing isn’t fit for the new high speed ADC. In order to evaluate high speed ADC, this paper focuses on a new technology for new ADC’s testing INL and DNL. In this paper the new technology is described and proved clearly. The conception and technology of ADC testing and the source of Ultra Flex system are described. Now this technology has been used in actual high speed ADC’s testing.
作者 郭晓宇
出处 《电子与封装》 2015年第12期12-15,共4页 Electronics & Packaging
关键词 高速ADC 微分非线性 积分非线性 high speed ADC testing INL DNL
  • 相关文献

参考文献3

  • 1UltraFLEX User Manuals[P]. Teradyne Technology, Inc.
  • 2Mark Burns. An Introduction to Mixed-Signal IC Test and Measurement[M]. Oxford University Press,Inc.
  • 3Walt Kester. ANALOG-DIGITAL CONVERSION [P]. Analog Devices.

同被引文献42

引证文献9

二级引证文献39

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部