摘要
本研究的目的是用3种不同的方法对上、下颌第一和第二磨牙进行形态测量和形态学分析。作者测量了207个上颌磨牙及207个下颌磨牙，记录了这些牙的牙根长度、根柱长度（RTL）、釉牙骨质界处的近远中径（MDD）和颊舌径（BLD）、根间角（IRA）宽度以及根分歧顶部区域的面积（FRA）。除了上颌磨牙的IRA与FRA，IRA与BLD及上颌第一磨牙的IRA与RTL之间有显著相关外，其余指标之间在统计学上则没有发现有显著的相关性。形态学的检查使用立体显微镜，非脱钙切片使用光镜及扫描电镜检查。其结果均显示出根分歧区的复杂性：大量不规则的解剖结构以及菌斑滞留区，从而不利于牙周治疗。
出处
《中国口腔医学继续教育杂志》
1999年第4期33-37,共5页
Chinese Journal of Stomatologial Continuing Education
