期刊文献+

苹果害螨为害叶等级的光谱鉴别法

THE SPECTRUM ASSAY FOR DETERMINING THE DAMAGE LEVELS OF SPIDER MITES TO APPLE LEAVES
在线阅读 下载PDF
导出
摘要 本文用室内光谱分析法找出了苹果害螨为害等级与680nm/800nm这一比值光谱指数的定量关系,并证明这种害虫在为害苹果树时对树冠没有方位性选择。这种病虫害为害与光谱相关关系的研究结果可使为害等级鉴别客观化和定量化,并为病虫害的遥感监测提供了依据。 A laboratorial spectrum assay for studying the quantity relation- ship between the damage levels of mite pests to apple leaves and the reflectance ratio at 680 nm/800 nm,the optimum spectrum index,was developed.The result showed that there was no directional selection of this mite pests on the canopy of apple tree.It was indicated that the spectrum assay is more objective and quantitative than visual resolu- tion)and can provide scientific data for the remote sensing of plant diseases and insect pests.
机构地区 北京农业大学
出处 《植物保护学报》 CAS CSCD 北大核心 1991年第3期221-224,共4页 Journal of Plant Protection
基金 国家自然科学基金
关键词 苹果 害螨 叶片 光谱指数 遥感 spectrum index remote sensing mite pests
  • 相关文献

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部