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电子束轰击引起荧光体发光效率变低的原因
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摘要
CRT 在使用中,荧光体在电子束轰击下发光效率变低,被称为“烧伤”。近年来,荧光屏注入功率密度很大的投影管及高亮度显示器的应用,荧光体“烧伤”问题更显严重。各国除致力于开发发光效率高的新荧光体外,还不断研究荧光体使用中的“烧伤”原因。本文对此进行了综合分析。
作者
蔡南
陈清亚
机构地区
宜昌电子管厂
出处
《真空电子技术》
北大核心
1991年第5期32-35,共4页
Vacuum Electronics
关键词
CRJ
电子束轰击
发光粉
发光效率
分类号
TN14 [电子电信—物理电子学]
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真空电子技术
1991年 第5期
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