摘要
CMOS集成电路中的冒险现象会增大电路的功耗,所以对集成电路中冒险的检测和消除的研究十分重要。文章分别对集成电路中原始输入单跳变,和多跳变两种情况下产生的冒险现象进行了研究,提出了检测和消除冒险的方法。文章的方法可以在非常短的时间内检测出电路中可能产生冒险的点,对于单个原始输入跳变的情况可以通过增加很少的电路开销来消除一部分冒险点。
Low power design of digital circuits is important for today's digital circuits.Hazard or glitches increases the power dissipation in CMOS circuits.This paper investigates the hazards result from the simultaneous changing of one or more inputs and proposes the method to detect and eliminate them respectively.The method proposed in this paper can quickly detect the hazards,and can eliminated many of the hazards resulting from the single-input-change with low overhead.
出处
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2002年第14期211-214,共4页
Computer Engineering and Applications
基金
国家自然科学基金重点项目"容错计算基础技术研究"(编号:69733010)
国家863高技术研究发展计划项目资助(编号:2001AA111070)
