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DAFS研究NiFe/Cu多层膜结构
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摘要
本文首次利用异常衍射精细结构谱(DAFS)分析技术对多层膜中的NiFe和Cu的精细结构进行了分析。从DAFS谱中,我们提取出Ni和Cu的精细结构谱,从而可以单独研究多层膜中NiFe和Cu的精细结构。与荧光EXAFS谱的比较表明,两种方法得到的谱线完全一致。该技术为研究超薄多层膜的精细结构提供一种强有力的工具。
作者
罗光明
吴忠华
等
机构地区
中科院物理所及凝聚态物理中心
中科院高能物理研究所同步辐射实验室
出处
《北京同步辐射装置年报》
1998年第1期170-171,共2页
关键词
DAFS
NiFe/Cu多层膜
结构
超薄金属多层膜
异常衍射精细结构谱
分类号
O484.1 [理学—固体物理]
O766.3 [理学—晶体学]
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北京同步辐射装置年报
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