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激发光强度对多孔硅拉曼光谱的影响

The Effects of Exiting Laser Intensity on the Raman Spectroscopy of Porous Silicon
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摘要 报道了经较强激发光辐照后的多孔硅呈现出的独特拉曼光谱性质。其一阶拉曼峰随着激发光功率的不同而变化。当激发光功率增大时 ,其峰位逐渐红移 ,同时峰的宽度变大。这种变化是可逆的。 The Porous Silicon(PS) radiated by more power laser showed a unique Raman property.First order Raman peak of the PS changed with exiting laser intensity.The peak shifted to lower frequency and peak width became larger when exiting laser power increased.This procedure is reversible. The possible mechanism was discussed.
作者 孟耀勇
出处 《光谱实验室》 CAS CSCD 2001年第5期689-691,共3页 Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory
基金 广东自然科学基金 (974133) 广东省重点科技项目 (2 KM0 45 0 2 S) 广东高校自然科学科研项目 (2 0 0 0 18)资助课题
关键词 多孔硅 拉曼光谱 激发光强度 半导体 激发光功率 Porous Silicon,Raman Spectroscopy,Exiting Laser Intensity.
  • 相关文献

参考文献3

  • 1Tsu R,Appl Phy Lett,1992年,60卷,1期,112页
  • 2Sui Z,Appl Phys Lett,1992年,60卷,17期,2087页
  • 3Canham L T,Appl Phys Lett,1990年,57卷,10期,1046页

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