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SiC及其离子束技术在SiC研究中的应用

SiC and Applications of the Technique of Ion Beam in SiC Study
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摘要 本文阐述了宽禁带半导体材料SiC的晶体结构、材料特性及制备方法。同时综述了离子束技术在SiC研究中的应用。其中包括SiC的离子束合成、掺杂、器件隔离与钝化。 In this paper, crystal structures, material properties and thin films preparation for SiC as a wide-band gap semiconductor material were presented. Simultaneously, applications of the technique of ion beam in SiC study were described in detail. These include ion beam synthesis, imurity, device isolation and inactivity.
作者 阳生红
机构地区 中山大学物理系
出处 《中山大学研究生学刊(自然科学与医学版)》 2000年第1期8-12,共5页 Journal of the Graduates Sun YAT-SEN University(Natural Sciences.Medicine)
关键词 SIC 晶体结构 离子束技术 宽禁带导体材料 碳化硅 离子束合成 掺杂 SiC, crystal structure, technique of ion beam
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参考文献1

  • 1Dev Alok,B. J. Baliga. A silicon carbide LOCOS process using enhanced thermal oxidation by argon implantation[J] 1997,Journal of Electronic Materials(3):134~136

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