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吸光光度法测定氮化硅中微量镁 被引量:1

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摘要 氮化硅(Si3N4)陶瓷作为一种新型材料正在被开发研究,它是一种具有卓越的高温强度,优良的抗热震性及良好的抗腐蚀性,是一种很有希望代替超级合金的高温结构材料。由于杂质的存在会影响材料的性能,因此,建立氮化硅中杂质的测定方法十分必要,镁是氮化硅中必测的杂质元素之一。吸光光度法测定镁已有许多报道,所用显色剂大多为偶氮类试剂和三苯甲烷类试剂,但方法都存在选择性差、操作繁锁等缺点。原子吸收光谱法测定镁灵敏度很高,但由于氮化硅试样基体硅有严重干扰。
作者 晋勇
出处 《理化检验(化学分册)》 CAS CSCD 北大核心 1991年第4期226-227,共2页 Physical Testing and Chemical Analysis(Part B:Chemical Analysis)
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