微米PIXE对含金矿样的分析被引量：14

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摘要 <正> 建立在PIXE(质子激发X射线荧光分析)技术基础上的微米PIXE技术是继电子微探针之后的一种新的微束分析技术,它的探测限可优于电子探针10~2倍。对地质样品中痕量元素的测定,对矿物学、矿床学和地球化学领域矿物成分的微结构研究有重要意义。

作者任炽刚周世俊胡卫明黄发泱汤家镛杨福家王奎仁周有勤

机构地区复旦大学物理二系中国科学技术大学七系

出处《科学通报》 EI CAS CSCD 北大核心 1991年第16期1215-1217,共3页 Chinese Science Bulletin

关键词微米 PIXE 含金矿样矿样分析

分类号 P575.5 [天文地球—矿物学]

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