摘要
讨论了测量多层介质厚度的一种新方法 ,根据输入电磁波反射系数 ,用最优化方法反演出每层介质的厚度。
The new method for measurement of multi-layerd medium is presented The thiekess of each layerd can be inverted by optimizing method,according to electromagnetic wave reflection coefficient
出处
《现代电子技术》
2001年第8期8-10,共3页
Modern Electronics Technique
