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石英玻璃管的高纯二氧化硅涂层厚度的测量及其影响因素的探讨

THICKNESS MEASUREMENT OF HIGH-PURITY SILICA COATING ON FUSED QUARTZ TUBE AND DISCUSSION OF ITS INFLUENCE FACTORS

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摘要石英玻璃管的高纯二氧化硅涂层厚度是关系到该涂层制品质量的重要参数之一。在涂层与石英管本体间不存在任何可见的界面层。因此,采用一般方法难以测量此涂层厚度。为测量上述涂层厚度,我们研制了一种检测仪器。

作者彭嗣明史美光

机构地区中国建筑材料科学研究院测试技术研究所

出处《同位素》 CAS 北大核心 1990年第1期30-31,共2页 Journal of Isotopes

关键词石英玻璃管高纯二氧化硅涂层厚度测量 fused quartz tube, high-purity silica, coating thickness.

分类号 TQ171.731 [化学工程—玻璃工业]

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同位素

1990年第1期

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