用于微处理器功能测试的最小指令集测试法

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摘要本文介绍了一种比较简单而又具有较高故障覆盖率的微处理器测试方法──最小指令集测试法。它应用最小指令集的概念来测试微处理器的指令系统，对于最小指令集以内和以外的指令采用不同的测试方法，从而简化了指令系统的测试。此方法算法简单，易于实现，是一种较为可行的微处理器功能测试方法，已将其应用于TMS320C25的测试。

作者范卫东王鸿宾

机构地区中国华晶电子集团公司中央研究所

出处《微处理机》 1996年第1期80-82,共3页 Microprocessors

关键词微处理器测试最小指令集

分类号 TP362 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]

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