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射频等离子体沉积类金刚石膜微结构的表征 被引量:2

Microstructure Characterization of r.f.Plasma-Grown Diamondlike Carbon Films
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摘要 利用傅里叶变换红外光谱仪和X射线激发的CKLL俄歇谱的一次微分表征了类金刚石(DLC)膜的微结构。指出在高离子能量轰击和低CH_4压强下所形成的DLC膜内以sp^3C-C键为主,并且sp^3碳成分随V/Pa^(1/2) 增加而增加,与退火温度从200℃ 到800℃无关,DLC膜具有好的热稳定性。DLC膜密度研究指出:膜密度与沉积参量和基底材料有关。 Microstructure of diamondlike carbon(DLC)films were characterized using Fourier transformIR spectroscopy and CKLL first-derivative X-ray excited Auger electron spectra.Theseexaminations show that sp^3 C-C bonds are dominate in DLC films formed under high ion bombardmentenergy and low CH_4 pressure, and sp^3 carbon component increases with V/Pa^(1/2),DLC films have good thermal stability whatever the annealing temperatures ranging from200-800℃. An investigation of the densities of DLC films showed that the densities of films are ralatedto deposition parameters and substrate material.
作者 杨伟毅
出处 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1993年第1期6-12,共7页 半导体学报(英文版)
基金 江苏省科委资助
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引证文献2

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