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质子轰击Gd、Eu和Nd引起的L亚壳层电离

L-subshell ionization for Gd, Eu and Nd by protons
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摘要 用0.4—2.75MeV质子轰击稀土元素Gd、Eu和Nd靶,测得L亚壳层的X射线产生截面。利用亚壳层的荧光产额和Coster-Kronig跃迁几率的半经验值,求得2S_(1,2)、2P_(1/2)和2P_(3/2)三个亚壳层的电离截面。实验测得的电离截面以及它们的比值与ECPSSR理论预言值进行了比较。 Rare-earth element targets of Gd, Eu and Nd were bombarded by protons with energies between 0.4 and 2.75MeV. The L-subshell X-ray production cross-sections were measured, and the ionization cross-sections of 2S1/2, 2P1/2 and 2P3/2 subshells were obtained. Experimental ionization cross-sections and their ratios were compared with the prediction of ECPSSR theory.
机构地区 兰州大学
出处 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 1991年第1期36-40,共5页 Nuclear Techniques
关键词 GD EU ND L亚壳层 电离截面 Gd Eu Nd L-subshell lonization cross-sections
  • 相关文献

参考文献2

  • 1刘兆远,Nucl Inst Meth,1989年,134卷,162页
  • 2Cai Xiaohong,Vacuum,1988年,39卷,393页

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