期刊文献+

锡膏关键性指标测试试验

在线阅读 下载PDF
导出
摘要 通过对比普通印刷锡膏A与优化的(Head-in-Pillow,HiP)锡膏B,阐明了以下3组试验可以用来评估锡膏抑制HiP双球缺陷的能力,其分别为附着力测试(锡膏"拉长"参数时间t)、高温活性衰退试验、润湿试验,并对评估结果进行了试制验证,确认该方法切实可行。
出处 《焊接技术》 北大核心 2014年第5期47-50,共4页 Welding Technology
  • 相关文献

参考文献11

  • 1谷丰,卫国强,石永华.Sn-0.7Cu-xAg-yBi无铅钎料润湿性试验[J].焊接技术,2009,38(12):42-45. 被引量:1
  • 2史耀武,雷永平,夏志东,郭福,李晓延.无铅焊膏的设计与展望[J].电子元件与材料,2008,27(9):31-34. 被引量:14
  • 3侯昌锦,王会芬,吴金昌,张亚非.无铅BGA枕头缺陷的研究[J].电子工艺技术,2012,33(2):63-66. 被引量:4
  • 4孙磊,刘哲,樊融融.无铅再流焊接BGA球窝缺陷研究[J].电子工艺技术,2009,30(3):137-140. 被引量:5
  • 5He Xiaoyuan, Liu Sheng. Real time warpage measurement of a plastic BGA by projected grating method [C]//Proceedings of Inter- national symposium on microelectronics, San Diego CA: IMAPS, Reston VA, ETATS-UNIS, 1998: 537-542.
  • 6Seelig K. HIP defects in BGAs[J]. Circuits Assenubly, 2008, 19 (12): 28-31.
  • 7Scalzo M. Addressing the challenge of Head-ln-Pillow defects in electronics assembly[C ]//IPC APEX EXPO Proceedings, Las Ve- gas: Curran Associates, Inc., 2010:1 133-1 139.
  • 8Lopez E P, Vianco P T and Rejent J A. Solderability testing of Sn- Ag-XCu Pb-free solders on copper and Au-Ni-plated kovar sub- strates[J ]. Journal of Electronic Materials, 2005 (34) : 299-310.
  • 9Lopez E P, Vianco P T and Rejent J A. Solderability testing of 95.5Sn-3.gAg-0.6Cu solder on oxygen-free high-conductivity copper and Au-Ni-plated Kovar[J]. Journal of Electronic Materials, 2003 (32) : 254-260.
  • 10Vianco P T, Rejent J A. Properties of ternary Sn-Ag-Bi solder al- loys : Part lI --wettability and mechanical properties analyses [J ] Journal of Electronic Materials, 1999(28): 1 138-1 143.

二级参考文献24

  • 1张富文,刘静,杨福宝,胡强,贺会军,徐骏.Sn-Ag-Cu无铅焊料的发展现状与展望[J].稀有金属,2005,29(5):619-624. 被引量:27
  • 2王友山,史耀武,雷永平,夏志东.无铅焊膏用松香型助焊剂活化点的研究[J].电子工艺技术,2005,26(6):311-314. 被引量:11
  • 3史建卫,梁永君,区大公,柴勇.再流焊焊点可靠性自动管理系统[J].电子工艺技术,2007,28(2):78-83. 被引量:3
  • 4Moser Z. Pb-Free Solders : Part 1. Wettability testing of Sn-Ag-Cu alloys with Bi additions [J]. Journal of Phase Equilibria and Diffusion, 2006, 27(2): 133-140.
  • 5郭福.最新焊接标准汇编下册[M].北京:科学出版社,2002:102-104.
  • 6史建中.焊膏工艺性要求及性能检测方法[C]//2004年中国电子制造技术论坛会论文集.中国北京.2004.
  • 7HE M, ACOFF V L. Effect of Bi on the interfacial reaction between Sn-3.7Ag-xBi solders and Cu substrates [J]. Journal of Electronic Materials, 2008, 37(3): 289-240.
  • 8MARIO F A. Effect of flux on the wetting characteristics of SnAg SnCu, SnAgBi, and SnAgCu lead-freesoldersoncoppersubstrates[J] Journal of Electronic Materials, 2006, 35(7) : 1 530-1 636.
  • 9DONG Xia-xu, YONG Ping-lei. Experimental wettability study of lead-free solder on Cu substrates using varying flux and temperature [J ]. Joumal ofEleetronieMaterials, 2008, 37(1): 125-133.
  • 10Lee N C. Lead-free soldering where the world is going [J]. Microelectron, 1999, 26: 29-35.

共引文献20

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部