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变质反应中硅氧键总平均值的变化 被引量：1

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摘要 以X射线单晶结构分析的精测资料为依据, 计算了33个变质反应前后的硅氧键总平均值, 得出结论：增温趋向使硅氧键长的总平均值减小, 而增压趋向使硅氧键长的总平均值加大. 这个结论在理论上的意义在于, 在硅酸盐体系中, 增温趋向使硅氧键的共价性增强, 增压趋向使硅氧键的离子性增强. 高压下四面体的硅氧键会增长, 超高压下四配位的硅会变成六配位, 硅氧键会突然大大增长, 即硅氧键的总平均随压力增加而增长, 是一个由量变到质变的过程.
作者 叶大年 李哲 赫伟
机构地区 中国科学院地质与地球物理研究所
出处 《科学通报》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第1期78-80,共3页 Chinese Science Bulletin
基金 国家自然科学基金!(批准号: 49872019)
关键词 变质反应 硅氧键长 总平均值 硅酸盐矿物 晶体化学
分类号 O641 [理学—物理化学]
  • 相关文献

参考文献1

二级参考文献5

共引文献2

同被引文献15

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引证文献1

二级引证文献14

科学通报
2001年 第1期

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