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GIS中接触不良起弧造成绝缘下降的模拟试验

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摘要这里介绍的是日本大同工大、名古屋工大、富士电机公司、中部电力公司等共同就GIS接点接触不良引起放电造成绝缘下降的实验、分析结果。实验方式在接点部位设置微间隙,作为GIS接点接触不良的模拟,用以研究微间隙产生的电弧放电、即微放电对接点部位与箱壁之间的绝缘击穿特性的影响。

作者卫万采

出处《高压电器》 CAS CSCD 北大核心 1991年第6期56-59,共4页 High Voltage Apparatus

关键词 GIS 接触不良模拟试验绝缘

分类号 TM592.306 [电气工程—电器]

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高压电器

1991年第6期

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