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磁敏感加权成像技术在诊断弥漫性轴索损伤中的应用

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摘要 目的探讨磁敏感加权成像技术(S研)在诊断弥漫性轴索损伤(DAI)中的应用价值。方法对35例经临床怀疑而CT检查阴性的DAI患者用MRI(3.0T)检查,除常规序列检查外,另增加SWI序列,做最小密度投影法(MinIP)重建。结果35例患者SWI均显示有出血灶,共127个,SWI呈点状低信号。结论SWI检查对诊断DAI脑微出血灶有明显优势。
作者 孙银涛
出处 《常州实用医学》 2013年第1期22-23,共2页 CHANGZHOU PRACTICAL MEDICINE
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