超细颗粒的一次粒度测量
被引量：1
Measurement of First Particle Size of Ultrafine Particle
出处
《高技术通讯》
EI
CAS
CSCD
1991年第9期11-13,共3页
Chinese High Technology Letters
关键词
超细颗粒
粒度
测量
一次粒度
粉末
Ultrafine Particle
First particle size
Dark-field technology of the electron microscope
同被引文献7
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