摘要
本文采用扫描电镜、X射线残余应力分析仪、金相显微镜等工具分析了微波炉用磁控管碳化钍钨阴极的断裂失效机理,碳化后钍钨阴极较粗大的晶粒与内应力是其断裂的主要原因。
In this paper, the fracture mechanism of the thoriated tungsten cathode is analyzed systemat-ically by SEM, metallographic analysis, X ray residual stress analyzer. Coarse grains and largeresidual stress of carbonized thoriated tungsten cathode is the main fracture reason.
出处
《真空电子技术》
2013年第5期103-105,共3页
Vacuum Electronics
关键词
断裂机理
内应力
阴极断裂
Fracture mechanism, Residual stress, Cathode fracture
