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巧用“光缘”效应的无损检测技术
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作者
王建华
出处
《无损探伤》
2000年第5期48-48,共1页
Nondestructive Testing Technology
关键词
无损检测
“光缘”效应
分类号
TB302.5 [一般工业技术—材料科学与工程]
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霍峰,任冠宇.
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郭成彬.
国内无损检测现状和展望[J]
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黄明举,苏海涛.
计算机在产品无损检测中的应用[J]
.标准化报道,1999,20(6):29-30.
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无损探伤
2000年 第5期
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