期刊文献+

利用真空变温薄膜电阻实验仪测量热电材料特性参数 被引量:1

MEASUREMENT OF THERMOELECTRIC MATERIAL CHARACTERIZATION BY VACUUM VARIABLE TEMPERATURE THIN FILM RESISTOR INSTRUMENT
在线阅读 下载PDF
导出
摘要 利用北京交通大学理学院自主开发的VTR10型真空变温薄膜电阻实验仪对热电材料的热电阻率进行了多次测量,并用该装置精确测定了热电材料的塞贝克系数,得到了热电材料的电阻率随温度变化的曲线和塞贝克系数随温度变化的曲线. Based on the self-developed VTR10 vacuum variable temperature experiments in- strument by Beijing Jiaotong University, we measured the thermal resistivity of thermoelectric materials for several times, and precisely determined the Seebeck coefficient of the thermoelec- tric materials by this device. The curves of the thermoelectric material resistivity and the See- beck coefficient changing with temperature were obtained.
出处 《物理与工程》 2013年第3期9-12,共4页 Physics and Engineering
基金 中央高校基本科研业务费专项基金(2009JBM098) 北京市自然科学基金(2113050)
关键词 塞贝克效应 热电材料 塞贝克系数 电阻率 VTR10型真空变温薄膜电阻实验仪 Seebeck effect thermoelectric materials Seebeck coefficient resistivity the VTRIO vacuum variable temperature thin film resistor instrument
  • 相关文献

参考文献4

二级参考文献35

共引文献26

同被引文献2

引证文献1

二级引证文献3

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部