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基于FPGA的BIT模块设计
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摘要
BIT技术主要应用于故障探测及定位,而其与FPGA技术相结合将更好的应用于信号交联复杂、通道数较多、可靠性要求较高的大型电子系统。
作者
彭维
机构地区
中国电子科技集团公司第三十八研究所
出处
《科技信息》
2013年第18期276-276,共1页
Science & Technology Information
关键词
机内测试(Built-In
Test)
故障诊断
人工智能
分类号
TP277 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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