JT—60U长脉冲,高βN放电中磁岛宽度的测量

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摘要通过用一个外差辐射计测量电子回旋发射的振荡，估算了长脉冲、高βＮ放电期间的磁岛宽度。由于外差计的高空间分辨率约为２ｃｍ，所以能详细地测量磁岛结构的演变。磁岛宽度随着起伏的幅度而增大。当ｍ／ｎ＝３／２模出现时，饱和的磁岛宽率约为７ｃｍ。限制可持续的βＮ的电阻模的模数一般为ｍ／ｎ＝３／２和２／１。本文讨论了预测到的磁岛与新经典撕裂模之间的关系。

作者 Isaya.,A 严龙文

出处《国外核聚变》 2000年第1期44-49,共6页

关键词 JT-60U 磁岛宽度测量新经典撕裂模外差辐射计

分类号 TL655 [核科学技术—核技术及应用]

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