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激光等密度等倾干涉条纹法测定透明介质的厚度和折射率被引量：10

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摘要提出用迈克尔孙干涉仪等密度等倾干涉条纹法测定透明介质（玻璃、薄膜等）的厚度和折射率的方法．实验证明，这种方法是正确、有效和简便的．

作者李季平吴启元刘小廷蔡云良

机构地区南京航空航天大学理学院

出处《物理实验》 2000年第3期38-39,41,共3页 Physics Experimentation

关键词等密度等倾干涉条纹透明介质厚度折射率激光

分类号 O435.1 [机械工程—光学工程]

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