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用于原子发射光谱技术的电荷耦合检测器

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摘要本文阐述了ＣＣＤ用于ＩＣＰ－ＡＥＳ的优点，它可使分析速度加快并使波长选择性灵活。

作者 Micha.,B 李生华

出处《国外分析仪器技术与应用》 2000年第1期29-32,共4页 Foreign Analytical Instrumentation

关键词 CCD ICP-AES

分类号 TH744.11 [机械工程—光学工程] TN386.5 [电子电信—物理电子学]

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国外分析仪器技术与应用

2000年第1期

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