摘要
描述一种新的健全高效的测试向量自动生成方法———测试向量生成的可满足性算法。与现有的测试向量生成算法相比 ,满足性算法是一种有效改进搜索空间的搜索算法 ,运用几种简化技术 ,进一步改进故障诊断的方法。由部分ISCAS’85基准电路的仿真结果表明 ,满足性算法健全、有效 ,而且电路增大 。
In this paper we describe a robust and efficient algorithm for ATPG——the algorithm for test pattern generation using satisfiability. In contrast with existing algorithms for ATPG, the proposed algorithm relies on the optimized searching algorithm for effectively pruning the searching space. Experimental results, obtained by the ISCAS'85 benchmark circuits, confirm that the algorithm is robust and efficient.\;
出处
《系统工程与电子技术》
EI
CSCD
2000年第6期73-76,共4页
Systems Engineering and Electronics
关键词
故障诊断
测试向量生成算法
搜索算法
Algorithm\ \ Digital circuit\ \ Fault diagnosis\ \ Automatic test pattern generation
