对霍耳效应原理在测量磁场中的误差分析及其消除方法探讨被引量：1

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摘要前言利用半导体在磁场中的霍耳效应原理直接测量磁场强度(或空间磁感应强度),是一种应用很广泛的方法。目前国内外厂家已研制和生产出多种型号的高斯计,都是利用上面原理制成的。由于该仪器价值较高,有许多高校因教学经费少,难以开出有关的实验题目。为此,我们自行设计和研制出“霍耳效应场强计”。该仪器线路简单、元件少、操作方便,稳定性好。现介绍于后,供同行们参考。

作者柳纪虎刘昶丁

机构地区兰州大学物理系

出处《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1991年第1期54-56,共3页 Semiconductor Technology

关键词磁场测量霍尔效应误差分析消除

分类号 TM936.1 [电气工程—电力电子与电力传动]

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半导体技术

1991年第1期

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