摘要
通过试验验证,研制出用于绝缘栅双极型晶体管(IGBT)模块及快恢复二极管(FRD)的动态参数测试系统,并采用基于GPIB总线技术的计算机集成测试系统设计,可实现示波器与PC之间的波形传输,并配置了由计算机控制的自动恒温测试夹具及配套的适应不同封装形式模块测试的适配器,从而大幅度提高了测试效率。
A new test equipment of dynamic parameters for insulated gate bipolar transistor （IGBT） module and fast recovery diode（FRD） is researched through the test.The wave transformation between oscilloscope and PC is realized by GPIB bus based on the computer system integrated test system.An atuo constant temperature clamp and adapters for different structure of encapsulation are equiped, the test efficiency is greatly improved.
出处
《电力电子技术》
CSCD
北大核心
2012年第12期62-63,共2页
Power Electronics
基金
国家"863"计划(2011AA050402)~~
关键词
绝缘栅双极型晶体管
动态参数
测试系统
计算机控制
insulated gate bipolar transistor
dynamic parameters
test system
computer control
