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某型电子产品整机电老炼故障数据分析 被引量:3

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摘要 本文对某型电子产品在不同温度下的电老炼的分组故障数据进行了分析。结果指出:电老炼对提高其可靠性有显著的作用;该分组故障数据可很好地用AMSAA-BISE模型跟踪。检验表明,两种温度下产品的失效机理相同,并导出了45℃→25℃的加速系数为10.5,并提出了确定电老炼时间的科学方法。
出处 《质量与可靠性》 2000年第4期26-30,共5页 Quality and Reliability
基金 国家自然科学基金(编号69774034)
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