PLA测试集自动生成系统PLATSG

THE AUTOMATIC GENERATION SYSTEM OF PLA TEST SET-PLATSG

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摘要 1.引论 PLA宏单元越来越频繁地在VLSI设计中采用,其测试亦越显重要。尽管自动测试生成总是相当耗时和困难的,但我们可以利用PLA的规整性去研制强有效的算法。目前,已提出了许多PLA的测试生成方法。

作者董云耀

机构地区杭州电子工业学院CAD所

出处《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 1990年第4期319-320,F003,共3页 Chinese Journal of Computers

基金电子工业部基金

关键词 PLA 测试集自动生成系统 VLSI

参考文献1

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计算机学报

1990年第4期

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