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海洋光学NanoCalc系统可实现精确的薄膜分析
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摘要
美国海洋光学(Oceanoptics)公司的NanoCalc系统利用光谱反射测量技术,将为半导体、医疗和工业环境等领域的用户提供精确的光学薄膜厚度测量。
出处
《军民两用技术与产品》
2012年第10期38-38,共1页
Dual Use Technologies & Products
关键词
海洋光学
C系统
薄膜分析
测量技术
光谱反射
厚度测量
光学薄膜
工业环境
分类号
O484.5 [理学—固体物理]
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军民两用技术与产品
2012年 第10期
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