期刊文献+

微控制器在电容测量中的应用 被引量:1

Application of Microcontroller in Capacitance Measurement
原文传递
导出
摘要 传统的电容测量方法在硬件和软件方面均存在诸多弊端。提出了一种新的电容检测方法。该方法利用555芯片电路,将电容值转变成555输出频率,进而通过单片机对555输出的频率进行测量。仿真结果表明,该方法具有较高的测量精度,可将测量误差缩小到4%左右。 There are many drawbacks in both hardware and software for conventional capacitance measurement methods.A novel capacitive sensing method was proposed.In this method,capacitor value was converted into output frequency of IC 555,which was then measured with microcontroller.Simulation results showed that this method had high accuracy,and the measurement error could be reduced to 4%.
出处 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2012年第5期745-748,共4页 Microelectronics
关键词 微控制器 电容测量 555芯片电路 Microcontroller Capacitance measurement IC 555
  • 相关文献

参考文献8

二级参考文献22

共引文献30

同被引文献9

引证文献1

二级引证文献3

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部