正态分布下质量指标X≥L时次品率p的计量型抽样检验

A measurement sampling test of the defective fraction p when the quality index X≥L for normal distribution

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摘要论述了当单位产品质量指标 X～ N (μ,σ2 )、X≥ L时对产品的次品率 p的计量型抽样检验方案 ,该方案比计数型抽样检验更充分地利用了样本所提供的信息 . The author discussed a measurement sampling test of the defective fraction p ,when the quality index of unit product X^N(μ,σ\+2),X≥L .The test used more information of the sample then the counting sampling test.

作者许志强

机构地区浙江万里学院计算机系

出处《浙江师大学报（自然科学版）》 2000年第3期242-244,共3页 Journal of Zhejiang Normal University(Natoral Sciences)

关键词正态分布平均质量指标计量型抽样检验次品率 normal distribution mean quality index measurement sampling test

分类号 O212.2 [理学—概率论与数理统计] O212.1 [理学—概率论与数理统计]

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