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用自校正的方法提高SiO_2的测量精度 被引量:1

To Measure the Density of SiO_2 with a Method of Self-Calibration
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摘要 介绍了一种自校正方法 ,能够在自动分析 Si O2 —二氧化硅浓度的过程中 ,自动校正参数 ,克服了环境温度对硅光电池的影响 。 A method of self calibration is introdueced in this paper. By the method, the density of SiO 2 can be measured precisely by verifying the parameters automatically and eliminating the influences of the environmental temperature.
出处 《辽宁工学院学报》 2000年第3期16-17,共2页 Journal of Liaoning Institute of Technology(Natural Science Edition)
关键词 自校 正测量 二氧化硅 浓度 硅光电池 精度 self-calibration density measurement
  • 相关文献

参考文献2

  • 1(美)斯科格,(美)韦斯特著,金钦汉.仪器分析原理[M]上海科学技术出版社,1987.
  • 2[美]查尔斯·K·曼(C·K·Mann)等 著,冉顺善.仪器分析[M]化学工业出版社,1983.

同被引文献1

  • 1陈守仁.自动检测技术及仪表[M]机械工业出版社,1989.

引证文献1

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