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一种组合逻辑电路故障模糊区域测试点优选算法

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摘要 讨论了组合逻辑电路故障模糊区域测试点的选择问题 ,提出了优选测试点的概念。在分析了四种典型电路的基础上 ,给出了一种适应于一般组合逻辑电路的算法 ,并举例加以说明。
出处 《实用测试技术》 2000年第2期5-7,共3页 Practical Measurement Technology
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