摘要
提出一种在 Benchmark电路中存在的隐式扇出和描述实际组合电路中扇出的一种方法 .从 D传送、赋值和冗余、难测故障等方面 ,对扇出的影响造成的困难进行了分析 ,并叙述了其影响的范围和程度 .
This paper presents a kind of implicit fan out existing in Benchmark circuits and a method to describe fan out in practical combinational circuits. It analyzes the influences and difficulties of fan out from aspects of D Drive, assignments value, redundant faults and hard test faults, and describes their scope, extent of the influences.
出处
《计算机学报》
EI
CSCD
北大核心
2000年第3期311-317,共7页
Chinese Journal of Computers
基金
国家自然科学基金!( 69773 0 0 6)
关键词
扇出
数字电路
隐式扇出
测试
fau out, digital circuits, implicit fan-out
