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基于NMM的AFM测试分析原子光刻纳米光栅样板

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摘要 利用激光汇聚中性铬原子沉积出一维纳米光栅样板的基础上,基于NMM的AFM测量系统对样板进行了测试分析和测试方法研究,得到一维纳米光栅结构平均节距为212.64±0.4nm,与^(52)Cr原子共振跃迁(^7S3→^7P(4^0)的半波长(λ/2)理论值212.8nm基本一致,测试结果非常准确。文章还介绍利用NMM测量机的大范围扫描测试距离,解决了光栅样板的测试区域快速定位的问题,对研究纳米级精度测量有实用价值及参考意义。
出处 《计量技术》 2012年第2期6-9,13,共5页 Measurement Technique
基金 国家科技支撑项目“冷原子纳米尺度计量基准关键技术研究”:2006BAF06808
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