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导弹BIT技术探讨及应用展望
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摘要
以导弹测试为背景,简述了测试仪器总线及综合测试技术的发展。介绍了导弹测试技术的现状,由此引出导弹BIT技术发展的需求,并对导弹BIT技术已有基础和设计应用进行探讨,回顾了BIT技术发展过程。最后介绍了导弹BIT技术的发展并对基于导弹BIT技术的几种新技术应用做出简要介绍和展望。
作者
李祺
黄道清
王文娟
机构地区
中国航天科工集团三院三部
出处
《飞航导弹》
北大核心
2011年第11期31-36,共6页
AERODYNAMIC MISSILE JOURNAL
关键词
BIT
ATS
导弹系统
综合测试
分类号
TJ760 [兵器科学与技术—武器系统与运用工程]
引文网络
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飞航导弹
2011年 第11期
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