摘要
采用一种有效的剖面分析方法,处理了武昌站1965和1982两年内一千多张夜间频高记录;将所得结果与国际电离层参考模式作了比较. 首先,提出一种改进的分片换算程序,使方法的精度大为提高。用该方法得出的夜间剖面,在等离子体频率大于实测描迹最低频率fe的部分以及剖面在fN=fe点上的高度和斜率,是精确而稳定的。在fN<fe部分,剖面形状与选用模式有关,但其总电子含量则具有稳定值。 从频高图算得实高剖面后,还对电离层某些特性参量进行了统计分析。值得一提的结果有: 1)、在非扰日子里,夜间F层表现出垂直方向上的整体运动,厚度较薄而且几乎不变,F剖面底部形状接近水平,与IRI—86剖面的陡斜情况相比,偏离很大。 2)、电离层峰高hmF2的日变曲线与IRI-86相应曲线大致相符;但实测曲线在黎明时段有一个明显的上升峰,这一特征在IRI中没有获得基本的反映。 3)、IRI关于hmF2的资料来源,主要是用电离层参量M(3000)F2由半经验公式间接推算。这也是IRI的误差来源之一。我们的工作表明:如对精度要求较高,应以用剖面分析法直接确定hmF2为好。但是,间接推算法尽管对单张频高图的应用,有时误差很大;从统计意义上则仍有较大实用价值。 4)、日出前数小时内是电离层的多变时段。这时。
出处
《天文研究与技术》
CSCD
1990年第S1期185-192,共8页
Astronomical Research & Technology
