NASICON湿敏元件老化机理的探讨

Probe into the aging mechanism of NASICON humidity sensor

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摘要研究了 NASICON 湿敏元件的老化性能。提出了溶解—析晶老化模型,该模型能很好地解释经磷酸处理后,NASICON 湿敏元件的老化性能改善的原因。 The aging mechanism of Nasicon hu- midity sensor was studied.A solving -crystallizing model of aging mechanism was proposed.The model could explain why the aging behvior of Nasicon humi- dity sensor was improved after treated in phospheric acid.

作者李祥春

机构地区景德镇陶瓷学院

出处《仪表材料》 CSCD 1990年第5期268-270,323,共3页

关键词 NASICON 湿敏元件老化陶瓷

分类号 TN379 [电子电信—物理电子学]

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1990年第5期

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