摘要
高纯钨分析要求测定的元素多(铁、铝、硅、镁、钙、钠等20种).测定下限低(1～20μg·g^(-3)).国内多采用摄谱法测定,也有采用ICP-AES法测定,但测定的元素种类较少,达不到分析要求.本文用直读光谱仪测定高纯钨中20种杂质元素的含量,满足了分析要求.1 试验部分1.1 仪器与试剂E1000型光谱仪(英国Hilger公司),真空双光谱仪.罗兰回直径1.5m,逆线色散约0.3nm·mm^(-1).缓冲剂:50g·L^(-1)Li_2CO_3和0.3g·L^(-1)Ga_2O_3的石墨粉.1.2
出处
《理化检验（化学分册）》
CAS
CSCD
北大核心
1999年第12期563-564,共2页
Physical Testing and Chemical Analysis(Part B:Chemical Analysis)
