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智能型仪表Y2K问题研究

Research of Y2K Problem Existing in Intelligent Instruments
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摘要 通过对电厂中常用智能型仪表及一般智能型仪表的硬件、软件、接口等内部结构的详细分析和研究,讨论了电厂中常用的智能型仪表的Y2K By rearching and testing the intelligent instruments most inuse in power plants,and the inner structure suchas the hard ware,the software,and the in terface et al.,the Y2K problem is discussed.
出处 《华东电力》 1999年第11期1-4,共4页 East China Electric Power
关键词 智能型仪表 时钟电路 计算机 2000年问题 Y2Kintelligent instruments clock circuit timer
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参考文献1

  • 1崔大勇 刘玲 等.SPEC2000MICRO Y2K问题测试与对策[J].上海电力学报,1999,(4).

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