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扫描探针显微镜研究弛豫铁电体电畴生长

Scanning Probe Microscopy Study of the Domain Growth in Relaxor Ferroelectrics
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摘要 本文研究了典型弛豫铁电陶瓷0.9PMN-0.1PT中的电畴生长过程.用扫描探针显微镜的轻敲模式和抬举模式对驰豫铁电陶瓷的表面形貌和电场力像进行了观察.结果表明,在施加不同针尖电压(0.05、0.5、1V)的情况下,能够诱导材料中纳米尺度极化微区通过沿<111>方向180°反转,从而形成亚微米尺度电畴. The aim of this paper was to study the domain growth of typical relaxor ferroelectric ceramics 0.9Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-0.1PbTiO3. The topographic and elecric force images of samples were observed by Scanning Probe Microscopy taping mode and lift mode respectively The results demonstrate that the nano scale polar regions can switch to sub-micro domains under different dc voltages on the tip. Such process is carried out by 180° domain switching of micro dipoles along < 111 > axis in crystal under extra field.
出处 《无机材料学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1999年第6期1000-1004,共5页 Journal of Inorganic Materials
基金 国家自然科学基金!59572036
关键词 扫描探针显微镜 电畴 弛豫铁电体 铁电陶瓷 scanning probe microscoopy, domain, relaxou ferroelectrics
  • 相关文献

参考文献3

  • 1Eng L M,Ferroelectrics,1997年,191卷,211页
  • 2Chan Helen M,Materials Science Research.21,1987年,739页
  • 3Liu X,Phys Rev B

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