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微焦点X射线CT及其在无损检测中的应用 被引量：9

X-RAY COMPUTED MICROTOMOGRAPHY(CMT) AND ITS APPLICATION TO NDT
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摘要 工业微焦点CT的X射线源焦点尺寸<5μm,成象分辨力明显优于常规焦点CT。介绍如何提高微焦点CT的图象质量,及其在无损检测中的应用。 The image resolution of industrial X-ray computed microtomography (CMT) with focal spot less than five micrometer is quite better than that of conventional focal spot CT. Improvement of the image quality of X-ray CMT and its application to NDT are described.
作者 李玉彬 李向良 姜燕梅
机构地区 胜利石油管理局地质科学研究院 美国捷特公司
出处 《无损检测》 1999年第12期549-552,共4页 Nondestructive Testing
关键词 射线检验 实时成象 微焦点CT 无损检测 Radiographic inspection Image Real-time imaging
分类号 TB302.5 [一般工业技术—材料科学与工程] O434.12 [机械工程—光学工程]
  • 相关文献

参考文献2

共引文献51

同被引文献47

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引证文献9

二级引证文献43

无损检测
1999年 第12期

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