摘要
本文报道我们研制的一套短毫米波波束场分布反射式自动测试系统。该系统由反射扫描机械装置,可控锁定放大器,对数放大器,微机接口电路,步进电机驱动电路及APPLE-Ⅱ微机等组成。利用该系统,能快速、准确、自动地测试短毫米波波束场的一维和二维分布,并自动画出一维分布图或方向图和二维分布或方向等强线图。这为短毫米波准把元器件和系统的研制,测试和调整提供了一种强有力的手段。
A short millimeter wave-two dimensional field pattern(contour) scanning mirror automatic measurement system has been developed. The scanning mirror prineiple and the hardware and software of this system are discussed. Experimental results oa 4mm wavelength are givea and the maia sources of error of such system are analysed
出处
《微波学报》
CSCD
北大核心
1990年第1期53-61,共9页
Journal of Microwaves
基金
国家科学基金
关键词
自动测量系统
毫米波
场分布
Field pattern, Automatic Measuring System, Reflecting Mirror Scanning, Short MM-Wave Measuremeat.
